扫描微电极系统(美国AE公司)

2019-09-08 16:09



扫描微电极系统(美国AE公司)
Scanning microelectrode system
技术参数:由SIET-SVET组成,SVET可监测金属表面腐蚀过程的电流密度,具有nV级电位梯度测量精度;SIET可测试微区pH值的分布,也可以监测微区与腐蚀相关联的Cl-、Na+和其他金属阳离子的浓度分布,空间分辨率15 m。
应用领域:腐蚀机理研究


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