Multimode IIID型扫描探针显微镜(德国BRUKER公司)

2019-09-08 16:09



Multimode IIID型扫描探针显微镜(德国BRUKER公司)
Multimode IIID scanning probe microscope
技术参数:集成AFM和STM的功能,噪声水平≤0.3Å,可持续稳定得到原子级分辨率图像,并配有横向力显微镜、磁力显微镜、静电力显微镜、扫描开尔文探针和双恒电位仪。
应用领域:腐蚀机理研究


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